| Найдено документов - 1 | Выборка документов | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Полочный шифр: 22.371.21я73 - С 42
Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения : учебное пособие для студентов вузов / М. М. Криштал, И. С. Ясников, В. И. Полунин [и др.] ; под общей редакцией М. М. Криштала; рецензенты А. М. Глезер, В. С. Кондратенко. — Москва : Техносфера, 2009. — 208 с. : ил. — (Мир физики и техники). — ISBN 978-5-94836-200-7. — Текст : непосредственный.
Экземпляры: Всего: 5, из них: аб.-4 в наличии 4, ч/з-1 в наличии 1
Дисциплина из КО: Применение зондовой микроскопии, Современные методы анализа поверхности, Современные физические и физико-химические методы исследования, Структура наносистем и фотоника (на английском языке), Физическая химия и методы исследования поверхности и наночастиц
Подробнее
Авторы: Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И., Филатов А. М., Ульяненков А. Г.
Отраслевые рубрики: физика, физика твердого тела
Ключевые слова: внутренние дефекты, гальваническое цинкование, графитовые включения, дефекты поверхности, дробеструйная обработка, идентификация материалов, идентификация технологии, композиционные антифрикционные покрытия, литейные алюминиевые сплавы, материаловедение, микродуговое оксидирование, наследственная химическая неоднородность, обработка поверхности, оксидные слои, поверхности, поверхности проката, поверхности разрушения, поверхности трения, рентгеноспектральный микроанализ (РСМА), сканирующая электронная микроскопия, сложные неметаллические включения, структурный анализ, технология металлов, фрактография, хромирование, шнуровая технология, эксплуатационные дефекты, электроискровое легирование
Индексы ББК: 22.371.21я73, 34.1в672я73, 30.3в672я73
Представления: Формат MARC21