| Найдено документов - 1 | Выборка документов | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Полочный шифр: 34.5-188 - У 137
Уайтхауз, Д.
Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / Д. Уайтхауз ; перевод с английского А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука; под редакцией Н. К. Мышкина. — Долгопрудный : Интеллект, 2009. — 472 с. : ил. — Лит.: с. 469. — ISBN 978-5-91559-023-5. — Текст : непосредственный.
Метрология поверхностей. Принципы, промышленные методы и приборы / Д. Уайтхауз ; перевод с английского А. Я. Григорьева, Д. В. Ткачука; под редакцией Н. К. Мышкина. — Долгопрудный : Интеллект, 2009. — 472 с. : ил. — Лит.: с. 469. — ISBN 978-5-91559-023-5. — Текст : непосредственный.
Экземпляры: Всего: 2, из них: аб.-1 в наличии 1, ч/з-1 в наличии 1
Подробнее
Авторы: Уайтхауз Д.
Отраслевые рубрики: машиностроение, технология машиностроения
Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, базовая линия, волнистость поверхности, датчики, измерительные приборы, калибровка, качество обработки, качество поверхности, метрология поверхностей, некруглость, несферичность, нецилиндричность, обработка поверхности, обработка результатов, огранка, оптические методы, поверхности, погрешности измерений, погрешности формы, пространственные параметры шероховатости, профиль поверхности, профильные параметры шероховатости, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, численные методы, шероховатость поверхности, шероховатые поверхности, щуповые приборы
Индексы ББК: 34.5-188
Представления: Формат MARC21