| Найдено документов - 1 | Выборка документов | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Полочный шифр: 30.3в672 - К 474
Кларк, Э. Р.
Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; РАН. Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова; перевод с английского С. Л. Баженова. — Москва : Техносфера, 2007. — 376 с. : ил. — (Мир материалов и технологий ; Вып. VI.13). — Лит. — ISBN 978-5-94836-121-5. — Текст : непосредственный.
Микроскопические методы исследования материалов / Э. Р. Кларк, К. Н. Эберхардт ; РАН. Институт синтетических полимерных материалов им. Н. С. Ениколопова; перевод с английского С. Л. Баженова. — Москва : Техносфера, 2007. — 376 с. : ил. — (Мир материалов и технологий ; Вып. VI.13). — Лит. — ISBN 978-5-94836-121-5. — Текст : непосредственный.
Экземпляры: Всего: 3, из них: аб.-2 в наличии 2, ч/з-1 в наличии 1
Дисциплина из КО: Структура наносистем и фотоника (на английском языке)
Подробнее
Авторы: Кларк Э. Р., Эберхардт К. Н.
Отраслевые рубрики: материаловедение, техника
Ключевые слова: аберрации, аналого-цифровые преобразователи (АЦП), интерференционная микроскопия, кодирование, композиты, конфокальная растровая лазерная микроскопия, конфокальные микроскопы, линзы, магнитооптические материалы, математическое моделирование, материалы, метод темного поля, метод фазового контраста, микропроцессоры, микроскопические исследования, микроскопия, микроскопия отраженного света, микроскопы, оптические методы, оптический микроскоп проходящего света, оптический микроскопотраженного света, оптоэлектронные нейронные сети, поляризационная микроскопия, приборы с зарядовой связью (ПЗС), распространение света, светофильтры, сигнальные процессоры, стереология, физическая реальность, флуоресцентная микроскопия, фотоника, цифровая информация, цифровое изображение, электромагнитное излучение, электрооптические материалы
Индексы ББК: 30.3в672
Представления: Формат MARC21