Илюшин А. С. Дифракционный структурный анализ: учебное пособие для вузов: в 2 ч. Ч. 2 / Илюшин Александр Сергеевич, Орешко Алексей Павлович. - 2-е изд., испр. и доп. - Москва: Юрайт, 2020. - 299 с. - (Авторский учебник). - ISBN 978-5-534-04324-2.Отраслевые рубрики: кристаллография, физика, физика твердого тела Ключевые слова: XАNES-спектроскопия, аномальная дифракция, дифракционный структурный анализ, ЕХАFS-спектроскопия, магнитное рентгеновское рассеяние, нейтронография, рентгеновская оптика, рентгеновские дифрактометры, рентгеновское излучение, рентгенография, рентгеноструктурный анализ (РСА), синхротронное излучение, циклические ускорители, электронная микроскопия, электронография Условия доступа:
ЭБС ЮРАЙТ
Доступ по логину и паролю. Доступ до 07.02.2024.
| 
Блог Мишки Б.
