ΰΥΐΚΥΝΠΕΒΜΨΘ ΙΝΛΞΚΕΙί. λΕΤΔΡΜήΟΝΔΜΨΘ ΡΜΥΑΕΟίΥΠΕΠ ΞΟΥΟΝΔΨ, ΝΐΫΕίΠΑή Υ ΒΕΚΝΑΕΙή "δΡΐΜή"
SCM`2003 International Conference on Soft Computing and Meassures