| Найдено документов - 1 | Источник: Nguyen, T. V. A Novel Method for Predicting Technology Trends Based on Processing Multiple Data Sources. - 10.25728/assa.2023.23.01.1251 // Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron a... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Журнал
Вид публикации: журнал
Journal of Surface Investigation: X-Ray, Synchrotron and Neutron Techniques. - Russia : Pleiades Publishing, Ltd. - Переводная версия "Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования". - ISSN 1027-4510.
Внешний ресурс:
Отраслевые рубрики: физика, физика тонких пленок, поверхности, хроматография
Ссылка на биб.описание: lib.uni-dubna.ru//PAP/UserEntry?Action=FindDocs&ids=9962&idb=pap
Подробнее