| Найдено документов - 1 | Источник: A Study of the Radiation Hardness of Si and SiC Detectors Using a Xe Ion Beam. - DOI: 10.1134/S0020441218060192 // Instruments and Experimental Techniques. - 2018. - V. 61. - № 6. - P. 769-771. ... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Журнал
Вид публикации: журнал
Instruments and Experimental Techniques. - Russia : Pleiades Publishing, Ltd. - Переводная версия "Приборы и техника эксперимента". - ISSN 0020-4412.
Внешний ресурс:
Отраслевые рубрики: физика, астрономия
Ссылка на биб.описание: lib.uni-dubna.ru//PAP/UserEntry?Action=FindDocs&ids=10054&idb=pap
Подробнее