| Найдено документов - 1 | Выборка документов | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Полочный шифр: 30.600.3 - А 593
Альфорд, Т. Л.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер ; перевод с английского А. Н. Образцов, М. А. Долганов; научный редактор русского издания А. Н. Образцов. — Москва : Техносфера, 2012. — 392 с. : ил. — (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). — Лит. - Прил.: с. 356. — ISBN 978-5-91522-225-9. — Текст : непосредственный.
Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер ; перевод с английского А. Н. Образцов, М. А. Долганов; научный редактор русского издания А. Н. Образцов. — Москва : Техносфера, 2012. — 392 с. : ил. — (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). — Лит. - Прил.: с. 356. — ISBN 978-5-91522-225-9. — Текст : непосредственный.
Экземпляры: Всего: 2, из них: аб.-1 в наличии 1, ч/з-1 в наличии 1
Дисциплина из КО: Методы характеризации наноструктур, Современные методы анализа поверхности
Подробнее
Авторы: Альфорд Т. Л., Фельдман Л. К., Майер Дж. В.
Отраслевые рубрики: материаловедение, наноматериалы, нанотехнологии, техника, технология, физика, ядерная физика
Ключевые слова: активационный анализ, атомно-силовая микроскопия, атомные столкновения, безызлучательные переходы, вторичная ионная масса-спектрометрия (ВИМС), вторичные ионы, дифракция электронов, излучательные переходы, каналирование ионов, корпускулярно-волновой дуализм, Лауэ уравнение, легкие ионы, масс-спектрометрия, масс-спектрометрия вторичных нейтральных частиц (ВНМС-SNMS), мгновенный анализ наведенной радиоактивности, монокристаллы, нанопленки, нестационарная теория возмущений, обратное рассеяние, плазмоны, поверхность, поглощение фотонов, поликристаллические материалы, потери энергии, радиоактивный распад, распыление, рассеяние, расширенная рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры (РРСПТС-EXAFS), резерфордовское рассеяние, рентгеновская спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS), рентгеновская эмиссия, возбуждаемая частицами (РЭВЧ-PIXE), рентгеновские лучи, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, спектрометрия обратного рассеяния, спектрометрия энергетических потерь электронов (СЭПЭ-EELS), Томаса-Ферми модель атома, тормозное излучение, упругие столкновения, Эвальда сфера, электронная оже-спектроскопия, электронная спектроскопия, электронный микроанализ, электрон-электронное взаимодействие, ядерные потери энергии
Индексы ББК: 30.600.3, 30.377, 22.38
Представления: Формат MARC21