Аннотация: Приведено обоснование потенциальной возможности применения малоизвестного бета-альбедноабсорбционного (БАА) метода, исследованию которого была посвящена кандидатская диссертация автора, для создания современного, не имеющего мировых аналогов комплекса приборов для неразрушающего контроля (НК) основных размерных параметров наноматериалов при их производстве (толщины, поверхностной плотности и покрытий) в нанодиапазоне, т.е. при значении толщины менее одного микрона. Актуальность проблемы определяется интенсивным развитием в настоящее время в России и во всем мире производства наноматериалов различных видов при практическом отсутствии разработок и производства приборов для НК. Даны аналитические выражения для расчета основных количественных характеристик БАА геометрии измерения – радиального распределения плотности и интегрального коэффициента обратного рассеяния электронов при переменных параметрах отражающей газовой или воздушной среды. Описан принцип построения оптимальной, мало зависимой от изменения параметров отражающей среды, геометрии измерения, способствующий минимизации погрешностей измерения для БАА метода. Приведены разработанные конструкции датчиков. Даны рекомендации по проведению дополнительных экспериментальных исследований БАА метода с целью обеспечения возможности измерения параметров в нанодиапазоне за счет применения промышленных бета-источников с меньшим значением максимальной энергии бетаспектра, повышения активности бета-источников или времени измерения, применения специальных фильтров для смягчения спектра испускания бета-источников и использования детекторов бета-излучения с максимально возможной площадью измерения