| Найдено документов - 2 | Найти похожие: "Заглавие" = 'Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Документ
Никитенков, Н. Н.
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для вузов / Н. Н. Никитенков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет; рецензенты Г. П. Грабовецкая, А. М. Борисов. — Москва : Юрайт, 2021. — 202 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-9916-6528-5. — Текст : электронный.
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для вузов / Н. Н. Никитенков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет; рецензенты Г. П. Грабовецкая, А. М. Борисов. — Москва : Юрайт, 2021. — 202 с. — (Высшее образование). — ISBN 978-5-9916-6528-5. — Текст : электронный.
Внешний ресурс:
ЭБС ЮРАЙТ. Электронная версия. Доступ по логину и паролю. Доступ до 07.02.2024
Подробнее
Авторы: Никитенков Н. Н.
Отраслевые рубрики: материаловедение, техника
Ключевые слова: атомные столкновения, вакуум, вторичная ионная эмиссия, вторичная электронная эмиссия, детекторы элементарных частиц, дифракция, ионизация, ионная спектроскопия, ионная эмиссия, ионное распыление, ионно-электронная эмиссия, ионные пушки, кристаллические структуры, кристаллография, масс-анализаторы, нетермическая десорбция, оже-спектроскопия, плазмоны, поверхности твердых тел, поверхностная ионизация, полевая ионная эмиссия, полевая электронная эмиссия, рентгеновское излучение, сканирующая зондовая микроскопия, строение поверхности, структурный анализ, термоионная эмиссия, термоэлектронная эмиссия, фотоэлектронная эмиссия (фотоэмиссия), электронная оптика, электронная спектроскопия, электронная структура поверхности, электронная эмиссия, электрон-электронное взаимодействие, энергоанализаторы
Индексы ББК: 30.3в672я73
Переиздания: DU/532010998
Представления: Формат MARC21
2. Книга
Полочный шифр: 30.3в672я73 - Н 623
Никитенков, Н. Н.
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для вузов / Н. Н. Никитенков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет; рецензенты Г. П. Грабовецкая, А. М. Борисов. — Москва : Юрайт, 2016. — 202 с. — (Университеты России). — ISBN 9785991665285. — Текст : непосредственный.
Технология конструкционных материалов. Анализ поверхности методами атомной физики : учебное пособие для вузов / Н. Н. Никитенков ; Национальный исследовательский Томский политехнический университет; рецензенты Г. П. Грабовецкая, А. М. Борисов. — Москва : Юрайт, 2016. — 202 с. — (Университеты России). — ISBN 9785991665285. — Текст : непосредственный.
Экземпляры: Всего: 2, из них: аб.-2 в наличии 2
Дисциплина из КО: Основы дифрактометрии, Физическая химия и методы исследования поверхности и наночастиц
Подробнее
Авторы: Никитенков Н. Н.
Отраслевые рубрики: материаловедение, техника
Ключевые слова: атомные столкновения, вакуум, вторичная ионная эмиссия, вторичная электронная эмиссия, детекторы элементарных частиц, дифракция, ионизация, ионная спектроскопия, ионная эмиссия, ионное распыление, ионно-электронная эмиссия, ионные пушки, кристаллические структуры, кристаллография, масс-анализаторы, нетермическая десорбция, оже-спектроскопия, плазмоны, поверхности твердых тел, поверхностная ионизация, полевая ионная эмиссия, полевая электронная эмиссия, рентгеновское излучение, сканирующая зондовая микроскопия, строение поверхности, структурный анализ, термоионная эмиссия, термоэлектронная эмиссия, фотоэлектронная эмиссия (фотоэмиссия), электронная оптика, электронная спектроскопия, электронная структура поверхности, электронная эмиссия, электрон-электронное взаимодействие, энергоанализаторы
Индексы ББК: 30.3в672я73
Переиздания: a3a7e7d00d5e4693a700d09bd127af46
Представления: Формат MARC21