Рид С. Дж. Б. Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Рид С. Дж. Б.; перевод с английского Д. Б. Петрова, И. М. Романенко, В. А. Ревенко. - Москва: Техносфера, 2008. - 232 с.: ил. - (Мир наук о Земле). - Прил.: с. 188. - Лит.: с. 205. - Предм. указ.: с. 216. - Доп.: с. 220. - ISBN 9785948361772.Отраслевые рубрики: аналитическая химия, геология, науки о Земле Ключевые слова: аналитическая электронная микроскопия (АЭМ), вакуумные системы, детекторы электронов, картирование распределения элементов, катодолюминесценция, микроанализ с ионным зондом, оже-спектроскопия, оже-эффект, подготовка, растровая электронная микроскопия (РЭМ), рентгеновские спектрометры, рентгеновское излучение, рентгеноспектральный анализ, рентгеноспектральный микроанализ (РСМА), рентгеноспектральный микроанализ с протонным зондом, рентгеноспектральный микроанализ с электронным зондом, рентгенофлуоресцентный анализ, электронно-зондовый микроанализ, электронные линзы, электронные пушки
| Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | | абонемент | 2 | 2 | 0 | | чит. зал | 1 | 1 | 0 |
| 
Блог Мишки Б.
