Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие для студентов / Brandon David, Kaplan Wayne D.; перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнениями О. В. Егоровой. - Москва: Техносфера, 2006. - 384 с.: ил. - (Мир материалов и технологий). - Лит. - Прил.: с. 363. - Доп.: с. 367. - Предм. указ.: с. 376. - ISBN 9785948360188.Гриф: Институт химической физики РАН Отраслевые рубрики: аналитическая химия, материаловедение, техника, химия, химический анализ Ключевые слова: аморфные тела, атомное рассеяние, Брэгга уравнение, геометрическая оптика, дифрактограммы, дифракционный анализ, дифракция электронов, интерференционная микроскопия, ионная масс-спектрометрия, Кикучи диаграммы, количественный анализ, контрастность изображения, кристаллические решетки, кристаллические структуры, кристаллография, Лауэ дифракция на монокристаллах, Лауэ уравнение, материалы, метод вращения монокристалла, метод фазового контраста, методы исследования, микроанализ, микроскопы, микроструктура, Миллера индексы, многослойное нанопокрытие, монокристаллы, обратная решетка, обратное пространство, оже-спектроскопия, оптическая микроскопия, порошковая дифракция, просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), разрешение, растровая электронная микроскопия (РЭМ), рентгеновская дифрактометрия, рентгеновский микроанализ, стереология, твердое тело, фотоэлектронная спектрометрия, химические методы, химический анализ, электронная микроскопия
Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | абонемент | 1 | 0 | 0 |
|