Библиотечная система
Библиотечная система. Международный университет природы, общества и человека "Дубна"
  Главная     Поиск       Новости     Консультация     Часы работы     О нас     О сайте     Блог Мишки Б.     Напишите нам  
Авторизация
№ карты:
Фамилия:
   Помощь
Помощь
Общая схема поиска литературы

Руководство по поиску в электронном каталоге

Правила использования информационных ресурсов
Электронный каталог
Расширенный поиск
Поиск по отраслевой классификации
Поиск по словарям
NEW!Новые поступления
Электронные версии
Журналы и газеты
 Подписка 2024
 Каталог периодики
 Заказ журналов
Рекомендуемая литература
Издания университета

Библиотека Чечельницкого А.М.
Библиотека Пономарёва В.С.
Редкий фонд
Выставки
Ресурсы интернета

Besucherzahler mail order brides
счетчик посещений

Библиографическое описание

30.3в673я73
Б 874
Книга

Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля: учебное пособие для студентов / Brandon David, Kaplan Wayne D.; перевод с английского под редакцией С. Л. Баженова, с дополнениями О. В. Егоровой. - Москва: Техносфера, 2006. - 384 с.: ил. - (Мир материалов и технологий). - Лит. - Прил.: с. 363. - Доп.: с. 367. - Предм. указ.: с. 376. - ISBN 9785948360188.

Гриф: Институт химической физики РАН

Отраслевые рубрики: аналитическая химия, материаловедение, техника, химия, химический анализ

Ключевые слова: аморфные тела, атомное рассеяние, Брэгга уравнение, геометрическая оптика, дифрактограммы, дифракционный анализ, дифракция электронов, интерференционная микроскопия, ионная масс-спектрометрия, Кикучи диаграммы, количественный анализ, контрастность изображения, кристаллические решетки, кристаллические структуры, кристаллография, Лауэ дифракция на монокристаллах, Лауэ уравнение, материалы, метод вращения монокристалла, метод фазового контраста, методы исследования, микроанализ, микроскопы, микроструктура, Миллера индексы, многослойное нанопокрытие, монокристаллы, обратная решетка, обратное пространство, оже-спектроскопия, оптическая микроскопия, порошковая дифракция, просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), разрешение, растровая электронная микроскопия (РЭМ), рентгеновская дифрактометрия, рентгеновский микроанализ, стереология, твердое тело, фотоэлектронная спектрометрия, химические методы, химический анализ, электронная микроскопия

Сигла храненияВсего экз.В наличииЗаказано
абонемент100


отобрать


Назад