Делоне Б. Математические основы структурного анализа кристаллов и определение основного параллелепипеда повторяемости при помощи рентгеновских лучей / Делоне Б., Пандуров Н., Александров А. - Москва: ОНТИ, 1934. - 328 с.: ил.Отраслевые рубрики: аналитическая химия, кристаллография, физика, физика твердого тела Ключевые слова: Бравэ параллелепипеды, вычисление кристаллов, геометрическая кристаллография, Дебая-Шерера порошковая камера, качественный структурный рентгеновский анализ, количественный структурный рентгеновский анализ, кристаллические решетки, кристаллы, Лауэ метод, Линника метод, метод вращения, область Вороного параллелепипедальные системы, параллелепипедальная система повторяемости, параллелепипедальные системы, преобразования симметрии, рентгеновские лучи, симметрия кристаллов, структурный анализ, теория правильной установки кристаллов, теория симметрии, Федоровская группа
Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | чит. зал | 1 | 1 | 0 |
|