Афонский А. А. Электронные измерения в нанотехнологиях и в микроэлектронике / Афонский А. А., Дьяконов В. П.; под редакцией В. П. Дьяконова. - Москва: ДМК Пресс, 2011. - 688 с.: ил. - Лит.: с. 679. - ISBN 978-5-94074-626-3.Отраслевые рубрики: микроэлектроника, наноэлектроника, радиотехника, радиотехнические измерения, радиоэлектроника, радиоэлектронная аппаратура (РЭА), электроника Ключевые слова: Matlab, анализаторы сигналов, анализаторы спектра, аналоговые осциллографы, вейвлет-анализ, измерительные генераторы сигналов, измерительные приборы, интегральные микросхемы, источники электропитания, кремниевая наноэлектроника, нанотехнологии, нанотрубки, оптико-электронные приборы, осциллография, осциллографы, переменный электрический ток, полевые транзисторы, полупроводниковые приборы, постоянный электрический ток, резисторы, сверхмалые напряжения, сверхмалые токи, твердотельная электроника, электронная рентгеновская микроскопия, электронные измерения, электронные микроскопы, электронные осциллографы
Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | абонемент | 1 | 1 | 0 | чит. зал | 1 | 1 | 0 |
|