Библиотечная система. Международный университет природы, общества и человека "Дубна"
  Главная     Поиск       Новости     Консультация     Часы работы     О нас     О сайте     Блог Мишки Б.     Напишите нам  
Авторизация
№ карты:
Фамилия:
   Помощь
Помощь
Общая схема поиска литературы

Руководство по поиску в электронном каталоге

Правила использования информационных ресурсов
Электронный каталог
Расширенный поиск
Поиск по отраслевой классификации
Поиск по словарям
NEW!Новые поступления
Электронные версии
Журналы и газеты
 Подписка 2021
 Каталог периодики
 Заказ журналов
Рекомендуемая литература
Издания университета

Библиотека Чечельницкого А.М.
Библиотека Пономарёва В.С.
Редкий фонд
Выставки
Ресурсы интернета

Besucherzahler mail order brides
счетчик посещений

Библиографическое описание

30.102
Л 66
Книга

Лич Р. Инженерные основы измерений нанометровой точности / Лич Ричард К.; перевод с английского А. В. Заболоцкого. - Долгопрудный: Интеллект , 2012. - 400 с.: ил. - Прил.:с.394. - ISBN 978-5-91559-119-5.

Отраслевые рубрики: метрология, техника

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, гелий-неоновый лазер, единицы измерения, емкостные средства измерения, Зеемана эффект, измерение, измерение массы, измерение параметров поверхности, измерение перемещений, измерение сил, инженерная нанометрология, интерферометрия, интерферометрия концевых мер, интерферометрия перемещений, интерферометры, ионная микроскопия, калибровка средств измерений, калибровка частоты лазера, координатная метрология, координатно-измерительные машины (КИМ), лазеры, методы измерения, нанометровая точность, нанометрология, неопределенность измерения, одномодовые лазеры, оптические профилометры, пневматические средства измерения, поверхности, погрешности измерений, прецизионные измерения, прецизионные соедства измерения, прослеживаемость длины, прослеживаемость измерения, профилометры, профиль поверхности, рельеф поверхности, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, точность, трехмерная текстура поверхности, фрактальные методы, электронная микроскопия

Сигла храненияВсего экз.В наличииЗаказано
абонемент110
чит. зал110


отобрать

Читать
Обложка


Назад