Альфорд Т. Л. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Альфорд Терри Л., Фельдман Леонард К., Майер Джеймс В.; перевод с английского А. Н. Образцов, М. А. Долганов; научный редактор русского издания А. Н. Образцов. - Москва: Техносфера, 2012. - 392 с.: ил. - (Фундаментальные основы нанотехнологий: лучшие зарубежные учебники). - Лит. - Прил.: с. 356. - ISBN 978-5-91522-225-9.Отраслевые рубрики: материаловедение, наноматериалы, нанотехнологии, техника, технология, физика, ядерная физика Ключевые слова: активационный анализ, атомно-силовая микроскопия, атомные столкновения, безызлучательные переходы, вторичная ионная масса-спектрометрия (ВИМС), вторичные ионы, дифракция электронов, излучательные переходы, каналирование ионов, корпускулярно-волновой дуализм, Лауэ уравнение, легкие ионы, масс-спектрометрия, масс-спектрометрия вторичных нейтральных частиц (ВНМС-SNMS), мгновенный анализ наведенной радиоактивности, монокристаллы, нанопленки, нестационарная теория возмущений, обратное рассеяние, плазмоны, поверхность, поглощение фотонов, поликристаллические материалы, потери энергии, радиоактивный распад, распыление, рассеяние, расширенная рентгеновская спектроскопия поглощения тонкой структуры (РРСПТС-EXAFS), резерфордовское рассеяние, рентгеновская спектроскопия, рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФС-XPS), рентгеновская эмиссия, возбуждаемая частицами (РЭВЧ-PIXE), рентгеновские лучи, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, спектрометрия обратного рассеяния, спектрометрия энергетических потерь электронов (СЭПЭ-EELS), Томаса-Ферми модель атома, тормозное излучение, упругие столкновения, Эвальда сфера, электронная оже-спектроскопия, электронная спектроскопия, электронный микроанализ, электрон-электронное взаимодействие, ядерные потери энергии
| Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | | абонемент | 1 | 1 | 0 | | чит. зал | 1 | 1 | 0 |
| 
отобрать
Обложка
|
Блог Мишки Б.
