Зевайль А. Трёхмерная электронная микроскопия в реальном времени / Зевайль Ахмед, Томас Джон; перевод с английского А. В. Сухова. - Долгопрудный: Интеллект, 2013. - 328 с.: ил. - Лит. - ISBN 9785915591027.Отраслевые рубрики: физика твердого тела Ключевые слова: 3D визуализация, когерентность, оптика, сверхскоростное изображение, синхротрон, сканирующая электронная микроскопия, спектрометрия энергетических потерь электронов (СЭПЭ-EELS), структурный анализ, электронная голография, электронная кристаллография, электронная микроскопия, электронная оптика, электронная томография, электронное изображение, электронные микроскопы
Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | абонемент | 4 | 4 | 0 | чит. зал | 1 | 1 | 0 |
|