Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения / под редакцией У. Жу, Ж. Л. Уанга; перевод с английского С. А. Иванова, К. И. Домкина под редакцией Т. П. Каминской. - Москва: Бином. Лаборатория знаний, 2013. - 582 с.: ил. - Лит. - Предм. указ.: с. 574. - ISBN 9785996311101.Отраслевые рубрики: нанотехнологии, техника, технология, химический анализ Ключевые слова: бионаноматериалы, коллоидные самосборки, метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), методы исследования, модификации поверхности, наноблоки, нановолокна, наноматериалы, нанопроволока, наноструктурные исследования, наноструктуры, наночастицы, одномерные наоструктуры, подготовка образцов, просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), растровая электронная микроскопия (РЭМ), рентгеновский микроанализ, темплатный эффект, углеродные нанотрубки, фотонные кристаллы, фотонные устройства, электронно-лучевая литография
| Сигла хранения | Всего экз. | В наличии | Заказано | | абонемент | 1 | 1 | 0 | | чит. зал | 1 | 1 | 0 |
| 
Блог Мишки Б.
