Отраслевые рубрики: машиностроение, технология машиностроения

Ключевые слова: атомно-силовая микроскопия, базовая линия, волнистость поверхности, датчики, измерительные приборы, калибровка, качество обработки, качество поверхности, метрология поверхностей, некруглость, несферичность, нецилиндричность, обработка поверхности, обработка результатов, огранка, оптические методы, поверхности, погрешности измерений, погрешности формы, пространственные параметры шероховатости, профиль поверхности, профильные параметры шероховатости, сканирующая зондовая микроскопия, сканирующая туннельная микроскопия, численные методы, шероховатость поверхности, шероховатые поверхности, щуповые приборы

Сигла хранения	Всего экз.	В наличии	Заказано
абонемент	1	1	0
чит. зал	1	1	0