Отраслевые рубрики: метрология, техника

Ключевые слова: интерференционная метрология, калибровка средств измерений, лазерная спектроскопия, микроскопия, наноизмерения, нанометрология, нанотехнологии, неопределенность, нестабильность наноизмерений, оптическая микроскопия, поверка средств измерений, погрешности измерений, радиоспектроскопия, рентгеновская спектроскопия, сертификация, сканирующая зондовая микроскопия, спектроскопия, стандартизация, технические средства, точность измерений, хроматография, электронная микроскопия, электронная спектроскопия, ядерная спектроскопия

Условия доступа:

ЭБС ZNANIUM
Доступ по логину и паролю. Доступ до 31.12.2024.