| Найдено документов - 2 | Найти похожие: "Заглавие" = 'Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения' | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Книга
Полочный шифр: 30.600.3в673 - Р 245
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения / под редакцией У. Жу, Ж. Л. Уанга; перевод с английского С. А. Иванова, К. И. Домкина под редакцией Т. П. Каминской. — Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2016. — 582 с. : ил. — Лит. - Предм. указ.: с. 574. — ISBN 9785996311101.
Экземпляры: Всего: 7, из них: аб.-7 в наличии 6
Дисциплина из КО: Методы характеризации наноструктур, Структурная химия и кристаллохимия
Подробнее
Отраслевые рубрики: нанотехнологии, техника, технология, химический анализ
Ключевые слова: бионаноматериалы, коллоидные самосборки, метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), методы исследования, модификации поверхности, наноблоки, нановолокна, наноматериалы, нанопроволока, наноструктурные исследования, наноструктуры, наночастицы, одномерные наоструктуры, подготовка образцов, просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), растровая электронная микроскопия (РЭМ), рентгеновский микроанализ, темплатный эффект, углеродные нанотрубки, фотонные кристаллы, фотонные устройства, электронно-лучевая литография
Индексы ББК: 30.600.3в673
Переиздания: RU/IS/BASE/466686032
Представления: Формат MARC21
2. Книга
Полочный шифр: 30.600.3в673 - Р 245
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применения / под редакцией У. Жу, Ж. Л. Уанга; перевод с английского С. А. Иванова, К. И. Домкина под редакцией Т. П. Каминской. — Москва : Бином. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с. : ил. — Лит. - Предм. указ.: с. 574. — ISBN 9785996311101.
Экземпляры: Всего: 2, из них: аб.-1 в наличии 1, ч/з-1 в наличии 1
Подробнее
Отраслевые рубрики: нанотехнологии, техника, технология, химический анализ
Ключевые слова: бионаноматериалы, коллоидные самосборки, метод дифракции отраженных электронов (ДОЭ), методы исследования, модификации поверхности, наноблоки, нановолокна, наноматериалы, нанопроволока, наноструктурные исследования, наноструктуры, наночастицы, одномерные наоструктуры, подготовка образцов, просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ), растровая электронная микроскопия (РЭМ), рентгеновский микроанализ, темплатный эффект, углеродные нанотрубки, фотонные кристаллы, фотонные устройства, электронно-лучевая литография
Индексы ББК: 30.600.3в673
Переиздания: DU/522754928
Представления: Формат MARC21